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太阳能芯片色差检测系统

EVSCS : 太阳能芯片色差检测系统
功能:
太阳能芯片经网印或蒸镀后,其表面颜色会依人眼主观判断而有颜色深浅之差别。本系统即运用光学原理,可依据太阳能芯片表面之颜色深浅,度量其表面颜色,将太阳能芯片分类为不同的种类,使太阳能芯片在出货时能够保持颜色上的一致性。
特点:

可剔除颜色不均匀之太阳能芯片。

可自动排除芯片上电路印刷之区域,避免干扰颜色之判读。

操作简易,操作接口可中英文切换。

可记录芯片判读影像文件,将检测结果记录于数据库中,以供统计分析及管理。

亦可参照标准色彩编码进行色差分类。

具有均匀性的判读(客户可设定判断标准)

可整合电路外观瑕疵检查。

规格:
规格尺寸:最大156x156mm,低于此尺寸可设定其检测区域
检测分类:至多可依据检测规格分为五类
检测时间:< 1.5 sec./pcs
主要构件:
高分辨率相机及镜头组(High Pixel Camera and Lens Assembly)
光源装置(Lighting device)
计算机;屏幕(Computer;Display):CPU为P4以上之IPC;15显示屏
 
操作系统(OS):Microsoft Windows XP
软件(Software)
 
机构尺寸/重量:约20x30x70cm/20kg(自动化机台可以订制,报废率《破损率,不含原有之瑕疵裂片》:0.0025以下。)
影片:
 
 
 
 
 
2014.01.01

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