晶圆倒角几何量测

EVWCG : 晶圆倒角几何量测
 

功能
本系统主要功能在于测量晶圆倒角的几何相关数据。
  Option 1. Excel report
  Option 2. SPC
管制图
  Option 3.
资料库存文件
规格
测量项目:

晶圆厚度(t) +/- 7.5um (重复量测)

倒角角度(θ1/θ2) +/- 0.2deg(重复量测)

倒角长度(A1/A2) +/- 20um(重复量测)

倒角高度(B1/B2/Bc) +/- 20um(重复量测)

倒角半径(R) +/- 15um(重复量测)

倒角半径(r1/r2) +/- 20um(重复量测)

量测时间:小于2秒/次。
 
主要构件

高分辨率相机及镜头组(High Pixel Camera and Lens Assembly)

光源装置(Lighting device)。

计算机;屏幕(Computer;Display):工业级CPU为P4以上;15LCD以上显示屏。

工件夹治具(Fixture) :承放φ3~8晶圆。

软件(Software)。

订制机台:约450(L)*220(W)*160(H)mm。

脚踏开关:为选配项目。

 

 
 
 
 
 
 
2014.01.01